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高低溫試驗(yàn)箱
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鋰電池防爆試驗(yàn)箱
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱
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液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱(二箱式)
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)
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快速溫變?cè)囼?yàn)箱
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太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱
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高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱
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步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室
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三綜合試驗(yàn)箱
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防水試驗(yàn)箱測(cè)試系列
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防塵試驗(yàn)箱測(cè)試系列
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高溫試驗(yàn)箱
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霉菌試驗(yàn)箱
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紫外線老化試驗(yàn)箱
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鹽霧試驗(yàn)箱
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高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
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自然對(duì)流試驗(yàn)箱
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電磁式振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng)
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可靠性壽命檢測(cè)儀器
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萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)
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離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
絕緣劣化及離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng) 用 途:
面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不好現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
絕緣劣化及離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)適用標(biāo)準(zhǔn):
JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
絕緣劣化及離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng) 技術(shù)規(guī)格:
產(chǎn)品名稱(chēng) |
絕緣劣化及離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng) |
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型號(hào) |
SIR13 |
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120V基板 |
250V基板 |
500V基板 |
1000V基板 |
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基板測(cè)試部 |
測(cè)試電阻范圍 |
320Ω~120TΩ |
320Ω~2.5TΩ |
320Ω~250TΩ |
320Ω~500TΩ |
320Ω~1000TΩ |
||||||
測(cè)試通道數(shù) |
8ch/基板 |
16ch/基板 |
8ch/基板 |
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連接電纜 |
2根一對(duì)/基板 4線式 |
2根一對(duì)/基板 加載測(cè)試電纜×2 |
2根一對(duì)/基板 加載電纜×1、測(cè)試電纜×1 |
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電氣特性 |
電 壓 加 載 部 |
加載電壓 |
電壓量程1 |
0.10V~120.00V |
0.1V~250.0V |
1.0V~500.0V |
1.0V~1000.0V |
|||||
電壓量程2 |
0.100V~12.000V |
-- |
-- |
-- |
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加載設(shè)定分辨率 |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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基本加載精度 |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
||||||||||
較大輸出功率 |
96mW/ch |
256mW/8ch |
300mW/ch |
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加載組數(shù) |
1組(1ch/1組) |
2組(8ch/1組) |
1組(8ch/1組) |
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加載量程 |
2量程 |
1量程 |
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加載通道數(shù) |
1ch |
8ch |
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較大負(fù)載容量 |
2.0μF/1ch |
0.47μF/8ch |
3300pF/1ch |
|||||||||
電 壓 顯 示 器 |
顯示器量程 |
2量程 |
1量程 |
|||||||||
顯示器 范圍 |
電壓量程1 |
0.00V~120.00V |
0.0V~250.0V |
0.0~500.0V |
0.0V~1000.0V |
|||||||
電壓量程2 |
0.000V~12.000V |
-- |
-- |
-- |
||||||||
顯示器分辯率 |
0.10V/0.001V |
0.1V |
||||||||||
基本顯示器精度 |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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顯示器分割單位 |
1ch |
1組或1ch |
1ch |
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顯示器周期 |
40ms |
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顯示器通道數(shù) |
8ch |
16ch |
8ch |
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電 流 測(cè) 試 |
測(cè)試量程 |
3量程 |
2量程 |
3量程 |
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顯示器 范圍 |
電流量程1 |
0.00μA~320.00μA |
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電流量程2 |
0.0000μA~3.2000μA |
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電流量程3 |
0.00nA~32.000nA |
-- |
0.000nA~32.000nA |
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量程設(shè)定 |
320.00μA·3.2000μA ·32.000nA·自動(dòng) |
320.00μA·3.2000μA·自動(dòng) |
320.00μA·3.2000μA·32.000nA·自動(dòng) |
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測(cè)試較小分辨率 |
電流量程1 |
10nA |
10nA |
10nA |
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電流量程2 |
100pA |
100pA |
100pA |
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電流量程3 |
1pA |
1pA |
1pA |
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基本測(cè)試精度 |
±0.3%/FS |
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通道數(shù) |
8ch |
16ch |
8ch |
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數(shù)據(jù)收錄周期 |
定期30s(較?。?/span>/離子遷移時(shí)40ms(較?。?/span> |
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離子遷移測(cè)試速度 |
40ms |
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漏泄檢出 |
400μs/ch |
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測(cè)試周期 |
40ms |
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其他功能 |
自己診斷 |
外接標(biāo)準(zhǔn)電阻診斷 ※選配 |
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連鎖 |
箱體門(mén)打開(kāi)時(shí),測(cè)試自動(dòng)中斷功能 ※選配 |
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斷線檢出 |
端子斷線檢出功能 |
-- |
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試驗(yàn)槽內(nèi)溫濕度收錄 |
追加溫濕度測(cè)試基板、借助3CS·keyless軟件較大可以收錄4個(gè)槽的數(shù)據(jù) ※選配 |
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樣品溫度收錄 |
通過(guò)3CS SMU 每個(gè)通道能夠收錄1個(gè)點(diǎn) ※選配 |
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系統(tǒng)較大構(gòu)成 |
SIR13 |
80ch(10基板) |
160ch(10基板) |
80ch(10基板) |
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SIR13mini |
24ch(3基板) |
48ch(3基板) |
24ch(3基板) |
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控制部 |
系統(tǒng)控制電腦 |
Windows XP Pro.SP2適于Windows2000) Pentium 500MHz以上 內(nèi)存256Mbyte以上 |
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測(cè)試部的連接 |
GP-IB 或Ethernet |
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其他 |
停電對(duì)策 |
停電發(fā)生前保存收錄數(shù)據(jù),并且通電后能夠繼續(xù)收錄 ※不停電電源必須 |
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控制單元 |
結(jié)構(gòu)類(lèi)型 |
SIR13 |
SMU 10插槽式 外形尺寸:W430×H300×D620 ※不包含突起部分 重量:約30kg(SMU 10枚配備時(shí)) 消耗電流:5A以下(100V使用時(shí)) |
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SIR13mini |
SMU 3插槽式 外形尺寸:W220×H370×D390 ※不包含突起部分 重量:約20kg(SMU 3枚配備時(shí)) 消耗電流:2A以下(100V使用時(shí)) |
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耐噪聲能力 |
1μs脈沖 2KV 1分鐘 |
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絕緣電阻 |
DC500V 100MΩ以上 |
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使用電源 |
AC85V~264V 50/60Hz |
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使用環(huán)境 |
溫度+10℃~+40℃ 濕度75%RH以下(無(wú)結(jié)露) |
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保存環(huán)境 |
溫度-10℃~+ 60℃ |
絕緣劣化及離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng) 產(chǎn)品圖片