PCT蒸煮儀用 途：
HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱，用于車規(guī)級芯片，IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的密封性和老化性能。
應用領域：
PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片……
PCT蒸煮儀特 點：
◆ 真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；
◆ 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時；
◆ 干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥；
◆ 水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護；
◆ 耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；
PCT蒸煮儀滿足標準：
AEC Q101（車規(guī)級芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
PCT蒸煮儀技術規(guī)格：
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型號 |
SEST-S250 |
SEST-S350 |
SEST-S450 |
SEST-S550 |
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工作室尺寸(cm) |
? 25×35 |
? 30×45 |
? 40×55 |
? 50×60 |
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性 |
溫度范圍 |
+100℃～+132℃ / +145℃ / +150℃ |
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濕度范圍 |
100%RH飽和蒸汽（不可調）// 65%RH～100%RH非飽和蒸汽（可調） |
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溫度均勻度 |
≤2℃ |
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濕度均勻度 |
≤±5%RH |
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壓力范圍 |
1.2～2.89kg(含1atm) |
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加壓時間 |
約45/Min |
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溫度控制器 |
中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（SETH/控制軟件） |
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循環(huán)方式 |
強制對流循環(huán)方式 |
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結構 |
標準壓力容器 |
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加濕系統(tǒng) |
電熱管 |
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加濕用水 |
蒸餾水或去離子水（自動補水） |
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Bias偏壓端子 |
含偏壓端子（選配訂購時需注明） |
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加壓方式 |
1.鍋爐蒸汽加壓；2.外部氣體加壓 |
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材料 |
外殼材料 |
冷軋鋼板靜電噴塑(SETH/標準色) |
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內壁材料 |
SUS316不銹鋼板 |
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保溫材料 |
玻璃纖維棉 |
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電壓 |
220V～240V 50/60HZ單相 |
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